低压成套开关设备短路耐受强度试验策略研究

为了提高低压成套开关设备在实际运行中的短路耐受能力，研究了关键技术参数和优化试验策略。通过详细分析和测定短路电流（Ic）、预期短路电流（Icp）、短时耐受电流（Icw）和额定限制短路电流（Icc），确定了具体试验方法和步骤。采用高精度电流传感器、短路试验台和高速数据采集系统，进行了系统性的试验研究。结果表明，在25.67kA~45.67kA的短路电流范围内，低压成套开关设备能维持稳定的电压降和温升；在30.78kA~50.34kA的预期短路电流条件下，保护电路响应时间在3.98ms~5.12ms之间。额定限制短路电流试验中，设备在35.45kA~55.89kA电流下表现良好，持续时间为0.65s~0.96s。短时耐受电流及峰值耐受电流试验中，设备在20.78kA~40.56kA的电流范围内，峰值电流达45.12kA~78.12kA，温升控制在35.45℃~49.78℃。得出结论，低压成套开关设备在不同短路条件下均表现出优异的耐受性能，验证了优化试验策略的有效性和可行性。

低压；成套开关设备；短路耐受强度试验